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《掃描電子顯微鏡校準規(guī)范》（JJF1916-2021）【全文附高清無水印PDF版下載】
規(guī)范編號：JJF1916-2021
中文名稱：掃描電子顯微鏡校準規(guī)范
英文名稱：Calibration Specification for Scanning Electronic Microscopes (SEM)
發(fā)布時間：2021-07-28
實施時間：2022-01-28
代替文件：JJG 550-1988
引用文件：JJF 1071-2010 GB/T 20307-2006
PDF質(zhì)量：高清晰無水印PDF版（官方正式版、完整版、原版掃描，共計：13P（頁），PDF文檔大?。?96KB）
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